고급 산업 과학 기술의 독립 행정 기관 [Nomaguchi Ari의 회장] (이하 "AIST")Solar Power Research Center[Research Center Director Kondo Michio]는 "높은 신뢰성바카라 꽁 머니 전지 모듈Development and Evaluation Consortium은 2009 년 10 월 1 일에 시작되었습니다 Solar Power Technology Research Association은 협업 기관 및 교환 의견으로 참여할 것이며 9 개의 조직은 협력 기관으로 참여할 것입니다 첨부 된 시트에는 협력 조직과 협력 조직도 포함됩니다 기간은 2009 년 10 월 1 일부터 2011 년 3 월 31 일까지입니다

초기 바카라 꽁 머니 광 발전그리드 패리티이를 실현하려면 바카라 꽁 머니 전지 모듈의 신뢰성을 향상시키고 수명을 늘려 비용을 줄이는 것이 필수적입니다 이 컨소시엄에서 AIST는 31 개의 개인 회사, 주로 화학 및 부품 제조업체와 협력하여 주변 구성 요소를 검사하고 바카라 꽁 머니 전지 모듈의 신뢰성 및 수명에서 지배적 인 요인을 검사하고 새로운 모듈 성분 및 모듈 식 구조의 유용성을 확인합니다

Tsukuba Center에 위치한 작은 모듈의 프로토 타입 및 평가 시설을 사용하여 컨소시엄에 참여한 민간 기업과 AIST가 집중적 인 검증 및 연구를 수행하고 체계적인 연구를 통해 데이터베이스를 구축 할 수있는 환경을 조성합니다 또한,장기 야외 노출 테스트and열화 가속화 테스트의 결과를 비교하고 검토함으로써 실외 노출로 인해 발생하는 문제를 일으키는 요인이 명확 해집니다 또한 이러한 공동 연구 활동을 통해 인간 네트워크를 구축함으로써 업계의 젊은 인적 자원 개발에 기여할 것입니다 표적화 될 바카라 꽁 머니 전지의 유형은 주로 결정질 실리콘 바카라 꽁 머니 전지, 박막 실리콘 바카라 꽁 머니 전지 및 화합물 박막 바카라 꽁 머니 전지이다

바카라 꽁 머니 발전 비용을 줄이려면 발전 효율성을 향상시키고 제조 비용을 줄이고 바카라 꽁 머니 전지 모듈의 신뢰성과 오랜 수명을 향상시키는 것이 필수적입니다 바카라 꽁 머니 전지 모듈의 신뢰성과 수명은 필러 재료, 백 시트, 밀봉 재료, 배선 재료 등과 같은 주변 성분에 크게 의존하며, 모듈에 사용되는 모듈 및 이러한 구성 요소를 제조하는 제조업체는 새로운 제품을 개발하고 있습니다

바카라 꽁 머니 전지 모듈의 주변 성분을 제조하는 화학 제조업체 및 부품 제조업체는 새로 개발 된 구성 요소를 사용하여 바카라 꽁 머니 전지 모듈의 성능을 평가하기 위해 새로운 구성 요소의 유용성을 확인하는 시스템을 확립하는 것이 중요하다고 언급했습니다

화학 및 구성 요소 제조업체의 목소리에 대한 응답으로 AIST Solar Power Generation Center는 2009 년 2 월에 AIST 및 여러 개인 회사에 의해 신뢰성을 향상시키고 Solar Cell Moduls의 수명을 늘리고 개인 회사의 수명을 높이는 데 도움이되는 컨소시엄 유형의 공동 연구를 공동으로 수행하기 위해 2009 년 2 월에 두 가지 공개 정보 세션을 개최했습니다

"매우 신뢰할 수있는 바카라 꽁 머니 전지 모듈 개발 및 평가 컨소시엄"에 참여하는 개인 회사

계열사

협력기구

◆ 바카라 꽁 머니 전지 모듈

여러 바카라 꽁 머니 전지 세포의 전력은 배선과 연결되고 화학 성분을 사용하여 밀봉되고 고정되어 약 100 ~ 200 와트의 전력을 추출 할 수 있습니다 바카라 꽁 머니 전지판이라고도합니다[참조로 돌아 가기]

◆ 그리드 패리티

바카라 꽁 머니열로부터 전기를 생산하는 비용은 기존 변속기 및 변속기 그리드의 전력 비용과 동일합니다[참조로 돌아 가기]

◆ 장기 야외 노출 테스트

바카라 꽁 머니 전지 성능, 악화 및 바카라 꽁 머니 전지 모듈의 외관 손상의 변화를 관찰하는 테스트 및 바카라 꽁 머니 전지 모듈이 사용하는 구성 요소가 수년에서 수십 년 동안 야외에서 노출되었습니다[참조로 돌아 가기]

◆ 악화 테스트 가속화

바카라 꽁 머니 전지 성능의 변화를 측정하고 바카라 꽁 머니 전지 모듈의 외관 변화와 바카라 꽁 머니 전지 모듈을 온도, 습도 및 광 조사 강도와 같은 특정 인공적으로 생성 된 조건에 노출시켜 사용하는 구성 요소의 변화를 측정하는 테스트 가혹한 조건을 설정함으로써 수십 년에서 수십 년이 걸리는 장기적인 야외 노출 테스트는 며칠 동안 수십 일에 실현되도록 시도됩니다 가속화 된 악화 테스트 방법은 IEC (International Electrotechnical Commission)에 의해 표준화되지만 가속화 된 악화 테스트에서 재현 할 수없는 장기 실외 노출 테스트에서 관찰 된 변화와 같은 많은 도전이 있습니다[참조로 돌아 가기]