측정 표준 연구 부서
Takatsuji Toshiyuki, 연구 부국장
Kondo Yonori, 최고 연구원

수여 된 테마 : 간단한 모양과 산업 표준화 및 표준화를 기반으로 한 초고속 모양 표준 장치 개발

연구 성과 요약 :
복잡한 3 차원 곡선 표면을 제조한다는 전통적인 개념에서 벗어나 구체와 평면과 같은 나노 프레임으로 제작할 수있는 간단한 모양을 사용하여 표준 장치를 개발했습니다 이를 통해 정확도가 01 μm 수준의 기준 장치를 실현할 수 있으며, 이는 기존의 기준 장치의 정확도보다 높습니다

이 표준을 사용하면 측정 기기의 정확한 평가를 허용하며, 측정 기기 및 기어 제품의 정확성을 입증 할 수 있으며, 이는 매우 정확한 것으로 간주되어 품질과 기술 수준을 객관적으로 입증 할 수 있습니다 이 표준 장치는 생산 비용을 낮게 유지할 수 있으며 표준 장치 설계 방법은 대중에게 공개되어 누구나 설계 및 제조 할 수 있습니다 이 기술의 효과는 업계와 사회에서 칭찬을 많이 받았으며,이 기술을 기반으로 한 세 가지 JIS 표준이 발행되었습니다 이는 산업 및 사회의 기초 인 측정 및 품질 보증 기술을 향상시키는 데 기여했습니다